MÉTODOS FÍSICOS DE ANÁLISIS DE CAPAS FINAS Y SUPERFICIES








Técnicas de Caracterización mediante Radiación Sincrotrón

Métodos Físicos de Análisis de Capas Finas y Superficies de Sólidos

Sevilla, del 25 al 29 de junio de 2018



Boletín de Inscripción


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Ingreso o transferencia a la cuenta bancaria IBAN=ES2300494510312910002156 BANCO DE SANTANDER, a favor del CSIC (CIC-Cartuja) indicando en observaciones el nombre del solicitante y del Curso

Referencia       (Adjunto copia)


Solicita beca como estudiante y adjunta “Curriculum Vitae” y una carta de presentación de un investigador cualificado






Plazo límite de Inscripción: 10 de junio de 2018

Cuota de Inscripción: 400 €



Una vez cumplimentado remitir por fax 954460165 o por correo electrónico a [email protected]





Tags: análisis de, métodos, finas, análisis, físicos, superficies, capas